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基于非晶硒直接探测的全场X射线衍射动态成像

本文提出了一种用于暗场X射线显微镜(DFXM)的新型直接检测方法，该方法可以实现纳米尺度分辨率并且相比传统的闪烁体光学转换检测具有更短的曝光时间。作者使用加拿大KAI的新型探测器展示了这种直接检测方法的能力，该探测器可以直接捕捉高能X射线图像并具有高量子效率。他们使用一个薄膜YBCO样品作为测试案例，将这种直接检测系统的性能与标准的闪烁体光学转换检测系统进行了对比，包括曝光时间、分辨率和特征检测。结果表明，直接检测方法可以将曝光时间缩短一个数量级，从而实现对弱衍射有序物质的成像，同时在中观尺度上保持合理的空间分辨率。

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2025-03

便携X光检测"黑科技"：三层平板探测器单次双能减影成像新技术

发布时间：2025/03/24

本文评估了便携式三层平板探测器（FPD）用于单次双能量减影（DES）成像的可行性。DES成像可以减少解剖噪声并实现材料分类，但目前的方法存在运动伪影、灵敏度低和缺乏便携性等弊端。所提及的三层探测器每次曝光可生成三张图像：一张数字放射图像（DR）和两张DES图像（骨骼和软组织），没有运动伪影，并且相比双层探测器具有更高的剂量效率。本文使用调制传递函数（MTF）和探测量子效率（DQE）等图像质量指标对该探测器进行了评估，并进行了临床病例研究。结果表明，该探测器可产生高质量的DR图像和DES图像，提高了临床应用中的灵敏度，实现了便携式或困难环境下的DES成像。

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2025-02

非晶硒探测器：搭建纳米尺度X射线衍射成像直接探测系统

发布时间：2025/02/21

本文的实验是在美国阿贡国家实验室完成的，该实验室安装了4套BrillianSe a-Se非晶硒直接探测器。本文介绍了一种用于全场景纳米尺度X射线衍射对比成像的直接检测方法，采用了由KA Imaging Inc.开发的一种新型8微米像素间距的直接探测器。该方法与常用的闪烁体光学检测方法相比，曝光时间提高了一个数量级，并实现了对弱衍射有序系统的成像。关键技术包括使用聚合物复合折射透镜(pCRL)目镜、一种量子效率高达20 keV的16百万像素非晶硒(a-Se)直接探测器，以及对直接和间接检测方案在曝光时间、分辨率和特征检测等性能指标之间的比较。

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